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美国安维谱公司AOI自动检测仪1820系列现导入3D检测功能

发布时间:2004年1月6日 点击次数:670
来源:半导体国际   作者:
 
美国安维谱(MVP)公司正式宣布已把3D测试这一技术成功导入自动检测仪系列设备中。
  MVP 将最新的高速,高精度摄像机与自动检测仪1820系列现有的设计相结合开发出新的3D检测功能。使用MVP的专利技术,像0201或Micro-BGA一样小的组件都可以利用这一3D技术进行检测。Ultra II 和Supra可以提供这一选项以此呈现出2D/3D最为卓越的性能。
  MVP执行总裁George Ayoub博士谈道:“我们的3D检测功能具有极强的灵活性,现在客户具有双重选择,可100%运用3D技术来进行检测,也可运用多路径2D和3D组合技术进行检测。MVP的多路径技术能够做到运用不同传感器和(或)不同照明把同一程序的检测路径分开。这一技术还可以使检测程序在路径控制的情况下进行取样。
  Ayoub 博士表示:“将3D检测技术导入到AOI系统中可以有效扩大缺陷覆盖面,比2D检测系统更为行之有效。”如今,3D技术的高速,灵活,以及扩大的缺陷覆盖面可在同一平台上使用。
www.machinevisionproducts.com +86-21-64480601

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