内容导读：

美国安维谱（MVP）公司正式宣布已把3D测试这一技术成功导入自动检测仪系列设备中。
　　MVP 将最新的高速，高精度摄像机与自动检测仪1820系列现有的设计相结合开发出新的3D检测功能。使用MVP的专利技术，像0201或Micro-BGA一样小的组件都可以利用这一3D技术进行检测。Ultra II 和Supra可以提供这一选项以此呈现出2D/3D最为卓越的性能。
　　MVP执行总裁George Ayoub博士谈道：“我们的3D检测功能具有极强的灵活性，现在客户具有双重选择，可100%运用3D技术来进行检测，也可运用多路径2D和3D组合技术进行检测。MVP的多路径技术能够做到运用不同传感器和（或）不同照明把同一程序的检测路径分开。这一技术还可以使检测程序在路径控制的情况下进行取样。
　　Ayoub 博士表示：“将3D检测技术导入到AOI系统中可以有效扩大缺陷覆盖面，比2D检测系统更为行之有效。”如今，3D技术的高速，灵活，以及扩大的缺陷覆盖面可在同一平台上使用。 www.machinevisionproducts.com +86-21-64480601

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来源:半导体国际 作者: 时间:2003/12/17 0:00:00