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美国安维谱公司（MVP）推出新款AOI台式GEM系列检测设备 |
| 发布时间:2004年1月5日 点击次数:997 |
| 来源:半导体国际 作者: |
 美国安维谱公司（MVP）又推出一款新型GEM系列台式光学电子检测系统。MVP GEM台式系统是承袭具有高性能的1820电子检测系列设备,提供以桌面为平台同样具有非常卓越的性能。GEM系列台式检测设备的占用面积相比其他系统要小50%,和MVP现有的在线系统具有同样的焊接点检测和测试功能外,还具有极高的性价比。此外,作为极具灵活性的GEM系列台式机提供了可与MVP在线检测系统完全兼容,及程式转换的特性。 GEM系列检测设备具有一个大规格的数码摄像机和一个高精度的X/Y驱动轴。,摄像系统可以根据不同应用调整到一个可配置的视野。标准像素分辨率可在17 至22 micron/pixel这个尺度中进行调整。这个高解析度的性能同时拥有原本强大的处理功能和MVP独有的飞行摄像技术。这些设备组合在一起提供了完善的缺陷覆盖面,增加精确度,并具有提速的功效。 新型GEM系列台式机配有CAD驱动,以数据库为本的编程软件,并备有最新版本的MVP4.6软件。这个软件使用高性能及可修改的演算式来检验最高检测能力,低PPM和误判率。此系统可以放置在锡膏,炉前,炉后进行执行检测任务。完整的焊接点检测包括对锡膏不足和锡膏过多所作的检测。www.machinevisionproducts.com +86-21-64480601 |
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