——PXI技术业已成为测试测量行业的主流技术趋势

2005年7月——美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）宣布成功主办第二届“中国PXI技术和应用论坛” （PXI Technology & Application Conference，即PXI TAC 2005），本届活动于2005年7月7日在深圳举办，深圳站共吸引了近400位相关领域的工程师和技术人员到场参加。此外，值得一提的是PXI TAC是由NI主办、大中国地区规模最大的多供应商PXI活动，共有十家PXI行业内的企业“同台献艺”，携手展示和推广PXI技术和产品，他们分别是：白金赞助商Chroma、金牌赞助Aeroflex、VI Services（上海聚星仪器）、北京泛华测控和台湾拓甫科技，以及其他参与厂商ASCOR、VPC（美国弗吉尼亚电子器件公司）、ADLINK（凌华科技）、Acqiris和Ztec Technologies等，盛况空前。

来自NI美国总部的全球市场及客户运营高级副总裁John Graff先生正在发表精彩的主题演讲，其他的演讲者包括：NI全球模块化产品、PXI及仪器控制部门产品市场总监Eric Starkloff先生和Chroma（致茂电子股份有限公司）PXI系统事业部总经理庄嘉明先生。

今年活动的主旨是：PXI——引领自动化测试技术的潮流。活动同期共举行了十场仪器/自动化和测试应用专题的技术研讨会，从现场观众的反馈和参与厂商的交流来看，PXI技术正在被越来越多的测试测量工程师所接受和认可，PXI业已成为测试测量行业的主流技术趋势。

会议现场的调查，高达90%的观众将把PXI作为他们今后的首选测试测量平台，71.3%表示他们有意向参加、并会向同事推荐明年的活动。参与此次活动的来宾也纷纷表示：“论坛有实例有产品，理论和实际相结合，让我能更深入地了解PXI技术的前沿知识，以及其操作的便利性。”

基于两届活动的成功经验，NI会在明年继续举办第三届“中国PXI技术和应用论坛”，并有信心将其打造成大中国地区PXI行业内首屈一指的多供应商技术论坛。