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NI成功主办第二届 中国PXI技术和应用论坛 |
| 发布时间:2005年7月28日 点击次数:102 |
| 来源:电子产品世界 作者: |
——PXI技术业已成为测试测量行业的主流技术趋势 2005年7月——美国国家仪器有限公司(National Instruments,简称NI)宣布成功主办第二届“中国PXI技术和应用论坛” (PXI Technology & Application Conference,即PXI TAC 2005),本届活动于2005年7月7日在深圳举办,深圳站共吸引了近400位相关领域的工程师和技术人员到场参加。此外,值得一提的是PXI TAC是由NI主办、大中国地区规模最大的多供应商PXI活动,共有十家PXI行业内的企业“同台献艺”,携手展示和推广PXI技术和产品,他们分别是:白金赞助商Chroma、金牌赞助Aeroflex、VI Services(上海聚星仪器)、北京泛华测控和台湾拓甫科技,以及其他参与厂商ASCOR、VPC(美国弗吉尼亚电子器件公司)、ADLINK(凌华科技)、Acqiris和Ztec Technologies等,盛况空前。 今年活动的主旨是:PXI——引领自动化测试技术的潮流。活动同期共举行了十场仪器/自动化和测试应用专题的技术研讨会,从现场观众的反馈和参与厂商的交流来看,PXI技术正在被越来越多的测试测量工程师所接受和认可,PXI业已成为测试测量行业的主流技术趋势。 会议现场的调查,高达90%的观众将把PXI作为他们今后的首选测试测量平台,71.3%表示他们有意向参加、并会向同事推荐明年的活动。参与此次活动的来宾也纷纷表示:“论坛有实例有产品,理论和实际相结合,让我能更深入地了解PXI技术的前沿知识,以及其操作的便利性。”
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