测量可变频率振荡器或合成器的相位噪声是用昂贵的频谱分析仪。对于455kHz固定频率的特定测量,可用便宜的方法实现。

    本文的电路是用相位误差控制电流调制器,将低噪声基准振荡器锁定到被测信号以此实现了一个PLL,电抗调制器用1.4V左右低夹断电压结型FET。

    Clapp配置中的双极晶体管构成基准振荡器。晶体管对振荡电路的耦合非常弱,所以加在它上面的负载非常小。

    跟随的缓冲器振荡电路抑制可有的谐波并提供90°相移。正交解调器的输出dc耦合到示波器（用在X/Y模式）的输入。

    相位噪声偏差直接显示在示波器上,一个完整的圆表示±180°峰值相位噪声。相位偏差概率分布是Rayleigh和Gaussian正态分布之间的中间形式（见‘Noise’,Electronics World,Feb.1998,pp.146-151）。

    -3dB滚降频率是3Hz,它由R1和C1确定,此参量是设计的主要点。被测的接收器或收发器必须供给一个455kHz输出。微调电容器C2必须调节到使Tr1栅极上的rms电压不能超过100mV。已完成的这个电路的性能可用一个FET晶体振荡器评估。