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BlueRayTM半自动探针台 |
| 发布时间:2006年4月21日 点击次数:497 |
| 来源:半导体国际 作者: |
BlueRay™半自动探针台,在高产能测试方面有新突破,Z-轴精度更高、通讯更便捷,灵活性更强。 该设备Z-轴精度很高,这使晶片和基片的测试结果更可靠。这种高精度确保了对于待测器件（DUT）进行安全、可重复性的电接触,从而减少焊盘损伤,并且无需探针标记检查。BlueRay™半自动探针台与控制器之间的通讯,缩短了循环时间,这在高产能测试中显得尤为重要。为了进一步提高产能,可以将Suss微技术公司开发的上下片机械手直接连接于BlueRay?半自动探针台。这样就可以随着产能要求的提高,把半自动机器升级为全自动机器。 此外,BlueRay™半自动探针台非常灵活。它可用于光电、高频和微波、MEMS测试,并且可以使器件制造商测试高频和微波等无源待测器件（DUT）,或者测试LED等无电信号输出的待测器件（DUT）。
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