产品说明：

YieldAssist诊断工具能够提高半导体的产量,这是Mentor在以前测试及缺陷检测产品之后的新型测试性设计(DFT)产品和平台。
在晶圆分类阶段的制造中缺陷检测设备能为生产和故障分析工程师提供宝贵的信息。YieldAssist可使半导体制造商收集这种信息并识别系统和随机缺陷,以实现故障分析并提高合格率。该工具还能为改进可制造性设计的设计过程提供反馈链,并能用于提高制造测试本身的质量以及降低每百万缺陷(DPM)率。
基于YieldAssist的测试能够提供高质量测试、有效缺陷隔离及快速大批量诊断三个主要特性。