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面向德州仪器超低功耗 MSP430 微控制器的新型快闪仿真工具

10月26日，德州仪器(TI)宣布面向超低功耗MSP430微控制器(MCU)推出通用串行总线(USB) JTAG调试接口(MSP-FET430UIF)以及USB Development快闪仿真工具(FET)(MSP-FET430Uxx)，从而进一步提高了代码开发、评估与编程的灵活性。Development FET使用户能够直接连接到USB端口，而不用再与并行端口相连接（某些新型个人计算机 (PC) 不具备并行端口），同时，通过 PC USB 端口，调试接口可与现有并行端口 MSP430 FET 配合使用以进行编程与调试。
开发人员可使用与MSP430目标插板连接的调试接口或已包括了目标插板的Development FET作为完整工具进行开发、评估与编程。两套工具均采用标准14引脚JTAG连接器与MSP430进行通信。

通过将MSP430快闪器件直接连接至PC的USB端口，USB JTAG调试接口极大简化了设置以便于开发人员使用。该接口包括KickStart集成开发环境(IDE)，其可提供汇编程序、链接程序、仿真程序、源代码级调试程序和有限的C编译程序。其它特性还包括软件可配置电压（当电流为100mA 时，电压介于 1.8 与 3.6 伏之间），以及可提供额外保护的 JTAG 保险丝，并可与现有 FET 及 JTAG 插板进行向后兼容。此外，JTAG 接口还配备了 USB 线缆与 14 导体目标线缆，以及光盘版的完整文档。该款新型 USB FET 能够与运行于 Win2000 与 WinXP 环境下的 USB 1.0 与 USB 2.0 兼容。
新型 USB Development FET 不仅包括 USB 调试接口的所有功能，而且还可提供 MSP430 目标插板。


第三届MSP430 高级技术会议(ATC)即将在北京（11月16－18日）拉开帷幕，届时客户将亲眼目睹 USB JTAG 接口与 FET 的功能。TI 专家将为与会者详细介绍 MSP430 架构、外设、编码/设计技术与应用，以及最新的 MSP430 器件与工具。与会者可以选择各种深入的专题讨论会与研讨会来定制自身的培训，并可与 MSP430 专家、第三方及全球 MSP430 用户进行知识的交流。

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来源:今日电子 作者: 时间:2004/10/28 0:00:00