据EE Times网站报道，Nextest Systems Corp.近期推出了其最新型的高效率闪存自动测试设备(ATE)。Magnum Grande集成了TechWing TW-380测试处理器，可以同一时间内对720个NAND闪存器件进行测试，超过现有产品测试能力的两倍。

设备具有7680个输入输出引脚和960个测试区域，12底盘系统相对于去年的320个测试区域结构，其测试成本可以节省25%。设备每一个测试单元都包含有数据产生、错误处理、时钟和直流源，可以适用于广泛的器件测试，包括NAND和NOR闪存。

每套设备同时包含有一个嵌入式的1.2GHz PC，用以实现高效的测试控制。

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http://www.eetimes.com/news/semi/showArticle.jhtml?articleID=190302166