 |
 |
 导航:老古开发网首页→文章索引→文章分类→测试测量→[SOC自动测试仪]
|
| | -文章搜索 - 最新文章 - | |
SOC自动测试仪 |
| 发布时间:2003年12月2日 点击次数:616 |
| 来源:半导体国际 作者: |
科利登系统公司(Credence) 21-64438327 www.credence.com |
|
|
|
 欢迎进入老古论坛进行讨论
[测试测量] 相关文章:  晶片边缘检查系统简介:
SmartEdge晶片边缘缺陷检查系统适用于晶片边缘缺陷及颗粒的检查和分类。它能自动检测各种缺陷，例如点缺陷、刮痕、面缺陷、碎芯片、裂缝、蚀刻缺陷以及单晶生长缺陷和外延缺陷。光学检查和图象识别大大增强了系统的检查能力，从而能够自动区分晶片是否有用。它装备了机器人处理系统和FOUP全自动系统，具有很好的性能。该系统可以防止晶片在生产过程中由于边缘缺陷发生破损现象，有适用于200mm和300mm两种圆片规格的设备可供选择。 EV Group (EVG) www.evgroup.com ...... KEITHLEY的40GHz参数测试系统用于0.5nm超薄栅极介质工艺参数测试
东芝选择Keithley半导体测试系统用于晶片测试
科电工程收购Macrotron形成研发制造能力
Teradyne开设自足式网上服务
赛意法微电子购买多台科利登的Octet测试系统用于SoC测试
苏州中科集成电路设计中心选择安捷伦系列半导体测试设备
NI宣布推出最新版LabWindows/CVI 7.0
STATS为中芯国际提供混合信号测试服务
NI中国为高校师生提供优惠培训政策 |
|
|
|
下一个:
上一个: