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TDS6000C高性能数字存储示波器 |
| 发布时间:2005年9月13日 点击次数:487 |
| 来源:EDN电子设计技术 作者: |
产品型号 TDS6000C 这些新推出的四通道仪器能联接TDS6000B系列中两种现有的产品。TDS6000系列的全部四种型号都包括Pinpoint™触发系统等创新技术。TDS6000C系列还采用了与IBM协作开发的第三代硅锗(SiGe) ASIC 技术。 |
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[测试测量] 相关文章: 图形相关缺陷成为难以检测的致命缺陷简介:
摘要:随着当前器件几何尺寸的不断缩小,与设计图形相比任何小的差异 — 无论是产生于掩膜还是各种其它工艺步骤 — 都可能异常严重。对这些缺陷的检测也变得更加重要,并要求快速开发检测并区分真缺陷和可以忽略的安全性缺陷的工具技术。 图形相关缺陷可由任何异常情况产生,使掩膜图形与设计图形不匹配。图形图像的获得是建立在掩膜图形直接成像和把图像与设计数据、芯片-数据库检测,或掩膜的另一个相同区域作比较的基础上。 Toppan Photomasks公司的首席技术官Franklin Kalk说:“图形检测有两个关键步骤,一是图像获取,要求获得图形本身...... 专业化:中小型封测厂的发展之道
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