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设计纠错和验证解决方案

发布时间:2003年9月30日 点击次数:468
来源:半导体国际   作者:
 
Verity系统方案包括符合产业标准的工程验证测试设备、领先的光探测技术以及完整的软、硬件装置,可以保证快速准确的故障定位和对新设计进行特征分析。Verity系统通过在批量生产之前查出故障而使这些制造成本降到最低,避免了重新制作昂贵的掩模,并提高了器件的成品率。Verity系统的设计纠错环境使物理设计和验证同步进行,将器件的开发过程连成一个整体。Verity系统为设计者们提供了高效、交互性、用户友好的调试工具使其能在实验室中迅速有效地寻找故障,解决复杂难题。Verity系统还利用享有专利的光探技术,提供简便的背面进入器件层的测量技术,避免了多层金属互连层的阻碍。该技术采用了Netlist/CAD工具找到所期望的测量点。光学系统准确地定位是通过高精度的机械工作台实现的。探测系统利用了一种完全无源的非侵入测试方法。采用Verity系统创新的光学技术,能够看清电路中单个晶体管,从而使工程技术人员能够找到器件中关心的电路部分。当测试系统激励被测器件产生状态转换时,沟道中载流子发射的光子被一个快速且高灵敏度的红外探测器所接收,电路的关键时序信号被测出并显示在图形化用户界面上。

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