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SoCBIST 为设计流程增加了逻辑BIST 功能

发布时间:2003年1月22日 点击次数:649
来源:半导体国际   作者:
 

  Synopsys公司业已宣布用DFT Compiler SoCBIST软件打入逻辑BIST(内置式自测试)市场。该软件具有决定性的逻辑BIST功能。与全扫描技术相比,SoCBIST在保持扫描的高故障覆盖率的同时,将测试时间缩短十分之九以上,并将测试数据量减少到原来的1/100~1/400。此外,SoCBIST 需要20以下的ATE引脚,并且其所需的向量存储空间少于全扫描技术所需存储空间的1%。
  SoCBIST将扫描测试输入数据编码为种子、扫描结果数据编码为信号,从而支持待测试设备中的多个内部扫描链。SoCBIST是Synopsys公司的单次测试-综合流程的扩充,可透明地集成在Synopsys 公司的Design Compiler、DFT Compiler以及Physical Compiler流程内。这种集成化方法可消除设计综合与测试执行之间昂贵的迭代,并可使集成电路设计师同时实现时序收敛与DFT收敛。此外,SoCBIS还具有全面而又容易操作的设计规则检查与确认功能。并包含BIST集成、确认、诊断与调试等工具。底价:使用一年 $175,000。


  Synopsys www.synopsys.com.


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