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ADVANTEST测试技术研讨会 |
| 发布时间:2004年2月17日 点击次数:53 |
| 来源:中电网 作者: |
市场部经理刘勇强先生代表总经理致词。会议主要由ADVANTEST公司技术人员做报告,会上与与会嘉宾就技术及解决方案相关总是进行了探讨和交流。报告有“Soc Road Map及产品介绍、非接触IC卡芯片的低成本测试、Using EDA Linkage To Address Today Soc Test、LCD Driver IC测试基础、Flash Memory测试解决方案”。还邀请清华大学张向民教授做了高速AD、DA的测试评价报告。 本文摘自《半导体技术》 |
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