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第47583篇:IC设计也可“未卜先知”，NEC开发出故障预测新技术 |
| 发布时间:2007年3月15日 点击次数:120 |
| 来源: 作者: |
为了能够使芯片再出现多处故障的情况下能够可*的运行,NEC开发了这种超细分段(fine-grain fragmentation)技术和故障预测技术。 NEC表示,将MPU分为细小的冗余模块使故障局限于模块内部,而不影响整个MPU,只需两个MPU就能够获得非常高的可*性。
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