中国科协科技工作者道德与权益工作委员会日前发布公告,鉴于上海交通大学陈进主持的“汉芯一号”高性能dsp项目被查实造假,根据《全国优秀科技工作者条例》第十二条的规定,该委员会审议决定撤销陈进第三届“全国优秀科技工作者”荣誉称号。
 
　　据悉,经科技部调查组查实,陈进在负责研制“汉芯”系列芯片过程中存在严重的造假和欺骗行为,以虚假科研成果欺骗了鉴定专家、上海交大、研究团队、地方政府和中央有关部委,欺骗了媒体和公众。

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　　“汉芯”造假事件

　　2003年2月,陈进负责的团队推出的“汉芯一号”,尽管不过是从美国一家公司买回的芯片,雇人将芯片表面的原有标志用砂纸磨掉,然后加上“汉芯”标志“研制”而成,却因为其欺骗成功,被鉴定为“完全拥有自主知识产权的高端集成电路”,是“我国芯片技术研究获得的重大突破”。此后,随着“汉芯”二号、三号、四号相继问世,“汉芯”项目成为国家级重点科技攻关项目,有关部门下拨大量课题经费,陈进本人不但当上上海交大微电子学院院长,而且还荣获“全国优秀科技工作者”、“教育部长江学者奖励计划特聘教授”等一系列称号。去年12月,上海交大接到对陈进等人涉嫌造假的举报后十分重视,立即对有关情况进行了初步调查。考虑到问题的严肃性和复杂性,上海交大随即请求国家权威部门对事件进行深入全面调查。

　　科技部根据专家调查组的调查结论和国家科技计划管理有关规定,决定终止陈进负责的科研项目的执行,追缴相关经费,取消陈进以后承担国家科技计划课题的资格;教育部决定撤销陈进“长江学者”称号,取消其享受政府特殊津贴的资格,追缴相应拨款;国家发改委决定终止陈进负责的高技术产业化项目的执行,追缴相关经费。上海交大按照学校有关规定和程序,经研究决定：撤销陈进上海交大微电子学院院长职务;撤销陈进的教授职务任职资格,解除其教授聘用合同。