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Vishay薄膜扁平芯片电阻具有高稳定性

发布时间:2006年9月20日 点击次数:313
来源:半导体国际   作者:
 

       Vishay Intertechnology宣布推出采用七种业界标准尺寸的新型TNPW e3系列薄膜扁平芯片电阻,且均已通过恶劣环境条件测试,在处于85℃/85%相对湿度情况下56天后,这些电阻仍具有<=±0.05%的高负载寿命稳定性,以及<=±0.25%的抗湿性;而在200℃下进行负载寿命1,000小时测试后,实际偏差则<=±0.25%。

       TNPW e3系列薄膜扁平芯片电阻封装尺寸涵盖0402到2512,并涵盖所有额定功耗,其容差低至±0.1%,TCR值范围介于±10ppm/K~±50ppm/K。标准电阻值范围介于10Ω~8.87MΩ。均已针对需要高稳定性的现代电子应用进行了最佳化。其典型应用包括汽车、电信、工业、航空、医疗设备及高精度测试与测量设备。

       这些新系列电阻适于在自动化SMD装配系统上进行作业,并且适于利用波峰焊、回流焊及气相焊制程进行自动焊接。这些组件符合RoHS标准,其纯锡电镀制程可与无铅(Pb)及含铅(Pb)制程相容。

 


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