|
|
| | -文章搜索 - 最新文章 - | |
香港知识产权服务中心启用 |
| 发布时间:2006年9月12日 点击次数:294 |
| 来源:半导体国际 作者: |
2003年,香港科技园与北京半导体行业协会 (CBSIA)、台湾地区SOC推动联盟 (TSOCC)、华美半导体协会 (CASPA) 共同签署了合作协议,成立大中华半导体知识产权交易中心 (GCSIPTC),目的是促进知识产权的正确再使用,以达致国际认可的标准和商业模式。2004年,香港科技园与韩国半导体设计资产研究中心(SIPAC) 组成合作伙伴,并于2005年7月与哈尔滨工业大学、合肥工业大学、浙江大学、香港科技大学合作。2005年10月,香港科技园与中国信息产业部软件与集成电路促进中心(CSIP)达成联盟。 |
|
|
|
|
[综合电子] 相关文章: 对DRAM结构中影响良率的缺陷进行监控简介:
摘要 使用新型高分辨率暗视场检测概念可以成功地对高深-宽比结构中的残余物和浅沟槽隔离氧化物孔洞进行监控。通过与精确工艺步骤的紧密结合,可实现对潜在误差的快速响应并缩短学习周期。 与上一代设计规则相比,亚100nm设计规则DRAM的开发和制造面临着前所未有的挑战。按照新型设计概念,由于器件结构不断缩小,其外形特征的深-宽比增大,这样就给工艺控制增加了难度。因此要求寻找一种能够对带状缺陷和孔洞缺陷进行可靠检测的高深-宽比(HAR)检测方法。另外,由于缺陷尺寸接近小型特征尺寸,许多从前认为不那么严重的缺陷如今变得极具损害力。因而缺陷检测和良率控制技术的改良成为...... 采用通孔双置技术提高设计鲁棒性
天时地利人和,林德蓄势待发
Cirrus Logic发布环绕声编解码器系列
SiS965南桥芯片独步Gigabit Ethernet性能表现
NI新推出PXI接口Camera Link图像采集模块
新型光学元件的需求扩大“Zerodur K20”新改进
采用eXtremeDB实时数据库构建实时研究原型系统
瑞萨科技推出SQM1int软件模组
安森美半导体扩展中文数字商务平台 |
|
|
|