老古开发网首页
导航:老古开发网首页文章索引索引第2871页文章分类EDA/IC设计第29页→[EDA产业迎接65nm设计挑战]
| -文章搜索 - 最新文章 - |

EDA产业迎接65nm设计挑战

发布时间:2006年10月3日 点击次数:921
来源:   作者:
 

       在65nm节点,IC设计成本和设计团队规模的增加,为EDA产业呈现了一个发展机会。据International Business Strategies公司执行长Handel Jones的观点,如果EDA产业能够提供生产率更高的解决方案,让客户不必持续增加人头数就能够做65nm设计,那么EDA产业的成长率就可望增加。

      “EDA业者该做的事情就是去看看目前设计团队的人数,然后思考如何透过提供生产率更高的工具,来减缓或减低人头数的增加。”Jones认为,EDA市场的发展比IC产业要快;他在1996年就曾经说,半导体公司的研发支出大约占收入的5.5%,而到2010年该数字将成长至14%,其中一些公司的甚至可能高达20%到25%。

       “IC设计公司不能再继续增加研发人员,”Jones表示:“他们必须让工程师提高生产率,为此,提高EDA工具的生产率是EDA业者该做的事。”

       Jones认为,随着芯片制造商采用像电压岛(voltage islands)和后偏置技术(back biasing)来管理泄漏电流(leakage current),65nm晶圆量产将比原先认为的时间要快得多。而他表示,各公司已经自动自发地采取“重大的让步(significant compromises)”以实现更高的65nm闸密度,包括在芯片面积和性能中的折衷,以及转向多核心架构。 ”

       Jones认为,泄漏电流正成为65nm芯片设计工程师面对的头号问题;芯片设计工程师目前最为关心的是功能验证(functional verification)和时序收敛(timing closure),但是随着特征尺寸的缩小,他们预期管理泄漏电流将成为他们最为关心的问题。

       “我们认为,为了解决该领域的问题,需要全新系列工具和环境,”Jones表示:“这是一组全新的变量──你如何折衷电流和频率?你如何做那些折衷,是一件应该在设计开始就应该做的事情,而不是到后端才做。这是一个根本变化。”

       Zenasis是着重于为该领域提供方案的公司之一;该公司采用拥有专利的“混合最佳化(hybrid optimization)”技术来分析逻辑、实体和晶体管等级的设计。根据Zenasis总裁兼执行长Dennis Harmon的观点,各公司正艰难地作出折衷,以减轻65nm及其以上节点的泄漏电流问题。

       “但是,你不能以牺牲频率的代价来改善泄漏功率,”Harmon表示:“我得说,不管你在哪一个设计节点,你都会关注工作频率。没有人想让系统的执行慢下来,人们总是想让系统跑得更快。”

        Jones表示,65nm设计的效率不彰,其面积和成本的增加以及所达到的性能速度,低于芯片制造商的期望,种种因素将:“使IC供货商说“我们需要更好的工具并要跟EDA产业建立不同的关系。”

        设计成本-─在典型情况下是随着设计类型的改变而改变──在65nm节点是随着计划团队规模越来越大而呈现成长之势,Jones表示。他估计在65nm节点,计划管理成本占总设计成本的20%到25%,比90nm的12%到15%大幅上升。

       Jones还指出,有多种产品都被称为65nm设计。例如,闪存制造商,透过测量特征尺寸的半接脚间距(half-pitch),来划分制程及节点;这种划分方法比英特尔(Intel)和其它逻辑制造商所采用的保守方法更为积极。

       “在生产制程中,英特尔可能领先业界12到18个月,如果你逐个比较的话,“Jones说。他估计在2005年有41个设计开始采用65nm,今年则将有127个,而2007年将增加239个。这些设计当中,有些是非实际产品的测试芯片。“现在有可能量产的设计就有30到40个,到年底,大约有60到70个设计将量产。”他表示。

       Jones指出,造成65nm设计成本高昂的部份原因是该设计节点尚处于非常初级的阶段。他希望成本有所降低,但是,不会像以前的节点下降得那么快。“我们已经看到一些成本的下降,但是,你必须做的验证计划的数量却非常广泛,”Jones说:“我们已经看到每一个设计验证成本急遽成长。”

       Harmon表示,Zenasis的ZenTime工具有助于消费者缩短其达成频率目标所花的时间,不必花费数个月的宝贵时间。“当跨入以行动设备为主流的时代,现在业者必须着重在频率和功率之间作出折衷,”Harmon说:“当你转向65nm及以下制程时,那就不仅仅是打开或关闭电源的问题了。”

       各公司正利用各式各样的技术来克服泄漏功率问题,Harmon说,包括多电压阀值(multi-voltage-threshold)设计,以及电压岛和后偏置:“ 凡是你说得出的,他们都会去尝试。”


欢迎进入老古论坛进行讨论
[EDA/IC设计] 相关文章:
如何选择正确的芯片验证方法
简介:
众所周知,功能验证在芯片的整个设计周期中占用的时间最多。尽管目前有许多技术可用于减少验证时间,但最终应当如何选择?答案并不简单明了,而且经常令人迷惑并要付出高昂的代价。   一个项目中需要使用的工具和技术必须在设计周期的初期就确定下来,以便获得新验证方法费用预算的准确信息。经常有公司因为错误估计了运转这些新型工具和技术所需的设计和技术的复杂性而浪费大量的资金和资源。   产品的抽象级越高,越容易设计;同样的,......

量研集团发布突破性触摸传感器芯片
高速PCB板设计中的串扰问题和抑制方法
CADENCE彻底改造VIRTUOSO平台满足新一代复杂定制IC设计需求
全新 CAD平台为DEK用户带来彻底改变的工具质量水平
 
下一个:[半导体]SemiSouth Laboratories宣布SiC生产新厂建设完工
简介:
SiC研发公司SemiSouth Laboratories近期宣布,公司SiC生产新厂建设已经完工,工厂大部分制造设备已经完成安装。公司为了庆祝这一重要时刻,在Starkville举行了盛大的庆祝,并开放了位于SemiSouth工厂内部的II-VI,Inc.的SiC圆片制程净化间。 SiC是具有节能优势的新兴半导体技术,广泛应用于高功率器件领域。基于该技术的元件电气特......

上一个:[嵌入式系统]PLC和PC基于工业以太网通信研究与实现

老古开发网版权所有 2006年9月 asp.Net V2.0 设计:老古
页面缓存:30分钟 执行时间:47毫秒