访问电脑版页面

导航:老古开发网手机版其他

Keithley

导读:
关键字:
4200-SCS型半导体表征系统带有脉冲I-V(PIV)封装,可以对器件进行精确建模和参数提取。该系统可以用于晶圆级测试、长期可靠性测试、失效分析、工艺监控和65 nm节点及以下工艺采用的高k材料诊断中。除了具有超短脉冲的测试能力之外,该系统还允许对DC器件参数进行实时测量与分析。系统带有一个双通道电压脉冲发生器,可产生窄达10 nsec的电压脉冲,并且输出幅值可达±40 V。

www.keithley.com
来源:半导体国际   作者:  2006/8/8 0:00:00
栏目: [ ]

相关阅读

安森美推出新的高功率图腾柱PFC控制器,满足具挑战的能效标准

动态功耗低至60μA/MHz!助力设备超长续航,首选国民技术低功耗MCU!