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Epion实现超浅掺杂Thoughput的重大提高

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气体丛离子束(GCIB)开发商Epion宣布对其nFusionTM掺杂系统产生的离子束电流实现了重大性能提高。增强的离子束质量传递不仅使晶圆的throughput提高,并且提高了表面掺杂浓度,可应用于包括DRAM制造中超浅结和多晶双栅硼掺杂,以及沟道锗掺杂。nFusionTM
在相当于180mA的束流下产生的能量非常低,这对防止光刻胶过热具有非常的意义。
来源:半导体国际   作者:  2006/8/8 0:00:00
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