新一代的良率自动分析软件SiVision 4.0增强了软件的功能并优化了算法模型，这使客户能够在进行纳米领域半导体产品设计时进一步提高投资的收益率。同时，软件也可以根据用户的需求量身打造良率数据分析环境，从而能在优化产品特性及良率上下波动时自动的发现产品良率的瓶颈，进而确定在半导体大规模生产中的问题并提出相应的解决方案。
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