KLA-Tencor推出磁检测系统辅助MRAM开发

据Semiconductor Reporter网站消息，科天日前宣布推出第三代磁检测系统，将用于MRAM和硬盘驱动器市场。该系统基于科天专利闭环磁系统技术，能够检测小于0.1奥斯特的磁场强度，并配有先进的工业自动化系统。

据科天成长与新兴市场部副总裁Jeff Donnelly说，对于存储器的巨大需求是消费电子市场目前的特点。为满足这一需求，我们的客户们正着力于开发先进的磁性存储器件，MPW3正是为提高客户的开发速率和大批量生产而设计。

这套编号为MRW3的系统在市场领先的MRW200系统上发展而来，将用于测量硬盘驱动器的磁头和磁性随机存储器的检测，能够早期发现缺陷，提高产率。MRW3装有GEMSECS工厂自动化系统，具有高度可靠性，并有200毫米和300毫米两种可选择型号。