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龚新军:0.25um 嵌入式闪存成品率提升 |
| 发布时间:2006年7月20日 点击次数:291 |
| 来源:半导体国际 作者: |
上海华虹NEC电子产品有限公司 1.闪存技术因其自身良好的特性成为嵌入式应用的一个选择 2.成品率提升的三个阶段实例分析 3.EFA和PFA是应用于嵌入式SoC产品的重要手段 4.CP test datalog、工艺/器件窗口检测、减少缺陷以及其他相关方法是提高嵌入式闪存成品率的关键。 相关视频: 1、2006年成品率提升研讨会成功举办 2、Victor Gill: 纳米技术时代的工艺和成品率控制 3、龚新军:0.25um 嵌入式闪存成品率提升 4、Jay Orbon:90和65纳米技术面临的成品率挑战 5、王喜均:帮助提高成品率的材料 6、张赞彬:亚微米时代工艺控制 7、黄启伦:TSMC成品率提升方法 8、林启发:形成高成品率Salicide的先进去钴工艺 9、林光启:SMIC成品率管理系统 10、Panel Discussion:突破深亚微米工艺下成品率提升障碍 |
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