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龚新军:0.25um 嵌入式闪存成品率提升

发布时间:2006年7月20日 点击次数:291
来源:半导体国际   作者:
 
龚新军,存储器集成部科级主管工程师
上海华虹NEC电子产品有限公司
1.闪存技术因其自身良好的特性成为嵌入式应用的一个选择
2.成品率提升的三个阶段实例分析
3.EFA和PFA是应用于嵌入式SoC产品的重要手段
4.CP test datalog、工艺/器件窗口检测、减少缺陷以及其他相关方法是提高嵌入式闪存成品率的关键。



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