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FormFactor推出新型探卡 将大幅提高300毫米闪存测试产出 |
| 发布时间:2006年9月5日 点击次数:288 |
| 来源:SEMI 作者: |
据Semiconductor Reporter网站报道,FormFactor公司日前正式推出其专为300毫米闪存产品设计的测试探卡,并声称该探卡采用最新架构增长了设备正常运行时间,增加了易用性,提高了产出能力。 FormFactor目前正与Accretech以及Advantest等测试设备公司合作,将其探卡装载于这些公司的测试设备之上,以推进技术尽快进入市场。 该探卡基于one-touchdown的测试方法。这种测试方法因每次测试之后需要重新调整,非产出时间所占比例较大。该公司的Harmony OneTouch探卡通过将探卡与测试设备作为整体进行整合,降低非产出时间,提高产率。 相关链接（英文）： |
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