科利登系统有限公司在SEMICON China 期间展出Sapphire D-10系统。Sapphire™ D-10平台是一款多功能圆片和封装测试解决方案,特别为微控制器、无线基带、显示驱动及低成本消费类混合信号芯片测试市场的低成本需求而设计。她还能对应200Mbps的高速圆片测试市场,支持高度的并行测试。系统的采用模块化设计结构,可灵活配置,最多能支持768个数字通道,并配备高密度的模拟和混合信号仪器。
 完整的失效分析实验室方案
         科利登完整的65nm器件实验室失效分析方案包括发射显微镜,具有时序精度的发射技术,激光扫描显微镜以及电路编辑等多种工具和设备。她还包括了相应的软件工具,把所有以上这些失效分析设备以及设计调试硬件方法集成为一个简单易用,高效方便的实验室调试分析方案,满足当今先进器件开发的需要。事实证明,科利登的完整实验室是一套高投资回报的整体方案,她通过优化和提高整个产品质量来提高产品的良率和可靠性。通过其强大的缺陷定位能力,该方案能减少产品开发过程中的工程和光罩费用,并大大增加新产品抢占第一市场的机会。通过快速和精确的关键缺陷分析,科利登的完备失效分析实验室解决方案能加速产品的上市,同时还能通过优化设计的特征参数降低生产中所需的裕量。

Falcon
科利登的Falcon™系列能提供独特的模拟、DSP和数字功能,专门用于汽车电子、高级模拟及电源类芯片的测试。Falcon能提供很高的产能,她拥有每个通道的200MHz数字控制器。通过其电脑与测试仪间的高速接口,以及并行、多端点和同时测试能力,Falcon能明显减少测试的成本。Falcon的设计理念是把数字测试,模拟仪器,大电压大电流能力和先进的DSP技术等集成为一个单一系统。DSP仪器系列能提供一个大范围的混合信号测试能力,其动态特性能达到200MS/s,并能支持最大为20位的高精度,能很好满足像汽车电子,智能电源,数据转换等多种应用的并行测试。