2006年3月20日,科利登系统有限公司宣布：香港科技园(HKSTP)在其已有的一系列科利登诊断、工程验证、特征分析及测试仪系统的基础上,增加了激光调试和先进的发射显微镜,进一步完善其特征分析产品系列。这些新技术可以为香港科技园提供一个完整的失效分析实验室,从而能较早地在芯片设计过程中捕获重大的器件缺陷,帮助客户缩短产品上市时间,降低生产成本。

    香港科技园负责业务拓展和技术支持的副总裁张树荣先生说：“我们继续投资购买科利登的产品,一方面是因为其良好的性能,另一方面是因为我们的客户在量产测试中广泛使用了科利登的测试系统,所以还想再从测试到生产的过程中保证同样的高测试性能。科利登的诊断和特征分析工具在帮助公司加速设计周期降低成本方面拥有良好的声誉。做为我们最大的自动测试设备供应商,我们很高兴能和科利登建立一个长期的合作关系,不仅是因为其高灵活性的产品系列,还因为他们在本地区的高质量客户服务和技术支持。”

    香港科技园从科利登购置的完整测试实验室能为下一代高级消费类、计算机和通信芯片的诊断、工程验证、特征分析等需求提供一整套的能力和工具。此外,香港科学园还购买了科利登用于测试Soc、混合信号以及无线射频产品的一整套自动测试设备。

    科利登系统有限公司总裁兼首席执行官Dave Ranhoff说：“科利登的诊断、特征分析和验证完整实验室方案与其革新的ATE（自动测试设备）系统结合在一起,能帮助香港科技园为其客户提供一套业界领先、端对端的测试解决方案。依靠这一能力,香港科技园能帮助其客户加速新产品从工程验证到量产的转换,更快更好更低成本地推动新产品上市。”