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测试插座

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  中心探针RF测试插座专为d操作者而设计,具有内置的、可替换和对准特性以适应d群。不管器件的引线间距怎样,它可提供相同的测试高度。座体可重复使用,用户只需更换插头。探针自感应为0.51 nH,在18GHz下插入损耗为-1 dB,接触电阻<;70 m?,0.50-0.65 mm间距的器件的接触力为12-15 g/每接触( 0.80 mm或更大间距器件为17-20 g/接触)。标准材料为导电较好的镀镍/金的铜合金。
  Aries Electronics Inc.,
  www.arieselec.com.


  

来源:半导体国际   作者:  2005/8/11 0:00:00
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