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科利登推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产测试解决方案

发布时间:2005年8月26日 点击次数:256
来源:半导体国际   作者:
 

  科利登系统公司日前宣布,推出Sapphire系列的新成员Sapphire-D10.该系统是一款创新,高产能,多功能的圆片和封装测试解决方案,特别为微控制器,无线基带,显示驱动以及消费类混合信号器件的低成本测试解决方案而设计。优化的Sapphire-D10同时还能进行200Mbps的圆片测试,提供很高的并行能力。
  由于采用公司的专利技术,Sapphire D-10体积小巧,使用风冷散热,其测试能力比科利登原有的十分成功的Quartet系统还能提升一倍。Sapphire D-10的模块化与灵活性能支持最大768数字管脚以及完备的高密度模拟及混合信号仪器,成本只有竞争机型的一半。
  科利登总裁兼首席执行官Dave Ranhoff说:"Sapphire D-10把我们原有产品组合最好的优势和功能进一步提升,在圆片及封装测试时为客户提供明显的低成本优势。我们这款产品能够真正满足客户的要求―― 多功能,低成本,紧凑地集成了一批高产能的仪器,以适应极其价格敏感化的市场需求。


  专门为降低芯片测试成本而设计,Sapphire D-10使用革新的技术和测试经济化,在原有Sapphire平台上,进一步扩展了应用空间。 


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