T6575 SoC测试系统适合于数码消费类产品芯片的测试解决方案。数码消费类产品的芯片，是以在各种环境下都能被使用为前提设计制造的。而且有必要进行与实际动作同样的过负荷测试。T6575 VLSI测试系统就是这样一种能简单地实现高耐压芯片试验，具有实现完全测试项目能力的新型测试设备。
　　高压驱动器与高电压电源选配件
　　T6575在T6500系列中实现了驱动电压的大幅提高。由此使过负荷试验变得简单易行。另外，由于可选择高电压电源选配件，就可以进行需要高压的flash/E2PROM等测试。
　　确保与T6500系列的完全通用
　　T6575在确保了与T6500系列完全通用的基础上还增加了高电压电源选配件、Freerun clock功能、Over-range时钟发生等功能，使测试芯片的范围更加广泛。而且， 8个同测功能的对应，可以使测试资源得到有效共享。
　　推进测试平台简单化
　　通过采用、SoC测试系统上深受好评的Viewpoint软件，进一步推进了测试平台简单化发展。从设计、开发到量产生产线，实现了机器的稳定运转和简便的操作性。

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