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为半导体产业提供从设计到生产测试解决方案的供应商科利登系统有限公司(Credence Systems)日前宣布,科利登已经有超过150套的3.2Gbps数字测试设备在Sapphire系统上被其全球十大主要客户所采用,这些客户有著名的fabless设计公司,测试承包商及IDM领导厂商。 科利登D-3208高性能设备可用于多种应用中的产品特征分析及量产测试,包括HyperTransport,PCI Express和最新的DDRx等。而且,D3208上不仅能对串行总线进行分析和测试,也能用于并行总线,而其它很多竞争产品都只能应用于单一的总线模式。 科利登负责全球运营及SPG部(SoC Production Group)高级副总裁Jean-Luc Pelissier说：“从产品的特征分析到最终的封装测试,千兆级的信号完整性需求,低噪声和皮秒级的抖动控制和高精度测试都超出了传统ATE所能达到的性能范围。D-3208能帮助客户应对当今抖动测试的挑战。事实上,它们已经实现了比竞争机型更高的测量精度和性能。” D-3208数字测试设备依靠真正的差分通道提高测试过程中的信号完整性。它包含可编程的jitter injection来测量抖动容限,这是当今那些包含了高速串行总线的高性能SoC器件的一个关键测试参数。D-3208能提供嵌入时钟和源同步时钟两种测试方法。它能提供全面的基于协议的功能测试来应对高速串行总线中的固有的非确定性测试。 D-3208与其它的Sapphire设备无缝地整合在一起,能为高速差分器件的测试通道提供高达3.2Gbps的测试解决方案,同时能使用传统或者源同步的方式进行采样。这些测试通道能在测试程序中进行配置,可以定义为16对1.6Gps的输入或输出通道或者2组8对3.2Gbps的输入或输出通道,进一步地提高了该设备的灵活性和性价比。 为了应对测试中碰到的一些极具挑战的问题,D-3208还拥有on-the-fly时序计算和纠错功能,它能纠正一阶(时钟偏斜),二阶(线性和边沿类型)和三阶错误源(边沿临界和数据相关)到空前的0.6ps数字精度。它能提供极大的线性度和+/- 30ps的边沿放置精度。这一不可匹敌的高性能进一步提升了Sapphire系统的优势,帮助客户提高特征分析的结果和生产的良率。 Sapphire是基于NPower结构和XTOS软件的新一代ATE系统。与传统的大型测试仪完全不同,Sapphire可提供极大灵活性的配置,并具有从DC到几GHz的数字和模拟测试能力,支持结构测试和功能测试,完全封装的仪器选件可以自由的放置在测试头的任何一个插槽。
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设计紧凑的双轴加速计LIS2L02AL 和LIS2L06AL
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