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X射线平台 |
| 发布时间:2004年10月20日 点击次数:384 |
| 来源: 作者: |
FeinFocus, www.feinfocus.com |
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[测试测量] 相关文章:  NI和泰克联合拓展测试新领域简介:
--"2004设计、验证及测试论坛"圆满落幕 美国国家仪器中国有限公司（National Instruments，简称NI）和泰克电子中国有限公司（Tektronix）于7、8两月联合在深圳、上海、南京、成都、西安、北京六地相继举办了一系列巡回技术研讨会-- "2004设计、验证及测试论坛（Design, Validation, and Test Forum, 简称DVTF 2004）"。会议期间双方公司各施所长，展示了最新的产品和技术，包括NI LabVIEW图形化开发软件在泰克示波器上的运行操作和相关的演示实例，吸引了总共近千名专业人士到场参与。 NI和泰克两家公司都是测试测量...... 微软Windows CE支援MIPS32® 24K™ 核心系列
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