科利登系统有限公司在美西半导体材料与设备展(Semicon West)上展示了该公司领先业界的Sapphire™系列的最新成员Sapphire D-40系统。

        Sapphire D-40利用高密度的集成技术整合了模拟,数字,混合信号和射频测试仪器,具有很好的性价比。结合科利登先前的获奖平台Sapphire D-10的专利技术,Sapphire D-40进一步扩展了模拟和混合信号的可升级能力,因而能更好地解决SiP及MCP产品所带来的测试挑战和测试成本之间的矛盾。

        Sapphire D-40具有更强的数据处理和并行测试能力,能进一步提高量产测试的效率。Sapphire D-40平台的占地面积虽然只比D-10的大25%,但是它却能提供D-10平台4倍的测试能力。

        科利登系统有限公司总裁及首席执行官Dave Ranhoff说：” MP3播放器,无线电话以及其它类型的便携电子设备等消费类设备和应用不断地驱动着半导体产业的增长。Sapphire D-40的高密度集成技术能提供很好的通道配置灵活性,从而能非常经济地进行多site测试。消费类电子市场新产品开发的一个关键目标就是严格控制测试成本,Sapphire D-40的出现能为解决该问题提供更好的方法。”

        Sapphire D-40独特地结合了科利登的知识产权与广泛应用的业界标准,能持续地满足用户在不断提升其产品的数据路径带宽和电源功耗的情况下的测试需求。最终,对于各种测试需求,Sapphire D-40都能提供业界领先的高效率低成本解决方案。

        Ranhoff接下来谈道：“我们在Sapphire D-40平台上创造了一个类似互联网的高灵活性的底层数据架构。每次你往平台多增加一个模块或仪器时,你都能取得更大的数据带宽。”

        Sapphire D-40结合了Cpci标准,因此能兼容很多家公司都支持的通用仪器I/O标准。经过专门的设计,Sapphire D-40能支持被测器件和测试仪器以及测试处理器之间快速的数据交换。Sapphire D-40能配置超过2048个200Mbps的数字通道,以及高密度的混合信号测试仪器,同时还能支持高精度的模拟测试仪器和多达32个的MVNA射频测试端口。