光耦电流传输比的测试模型
我一直在找光耦电流传输比的测试模型,但是好像都没有看到准确的;
1、要是发光管没有电流,那么光敏三极管处于截至状态;
2、要是发光管有电流,那么根据电流传输比计算,三极管会流过一个电流;
3、假设Ic=1mA;那么,
如果Vc/Rc=1mA, 那么三极管基本上进入饱和导通状态;
如果Vc/Rc=0.5mA,那么三极管肯定进入了饱和导通状态;
如果Vc/Rc=2mA, 那么三极管进入了放大状态;
当然这是一个大体上的计算方法;还要考虑到Vce的值;但是因为同样的一种型号一个批次的光耦,它们的电流传输比离散性很大,所以大体上推算一下即可;
实际上的光耦的上拉电阻的选值,要根据Ib、电流传输比、Vcc来大体上推算一下,然后根据工程情况而定;
如果是传递开关量信号,那么,进入深度饱和就可以了;
如果是要传送频率的信号,那么,要仔细的选择Ib和Rc,找到一个最合适的参数;
什么叫深度饱和状态?
光耦的Vce刚刚=0.2V的时候,可以认为是进入了饱和的状态;
把这个时候的Ib提高到2倍,那么,肯定是进入了饱和的状态,至于是不是深度饱和,要看对深度饱和的定义;
我认为,n=3就可以看作是深度饱和了;
光耦隔离的参数是什么步骤来计算的
光耦隔离主要是考虑几个值:
1、二极管的驱动电流
2、CTR
3、光敏三极管的上拉电阻
4、光耦的速度
5、考虑隔离信号的频率值
一般的开关量信号的隔离,使用低速廉价的光耦只需要考虑一下能够保证充分饱和和截止;
高速信号的隔离,需要考虑到选用高速光耦;
这个时候,主要是按照datasheet来选择参数;