登陆
|
注册
|
搜索
|
最近新帖
发帖子
|
共享我的资料
|
精华帖子
|
热门话题
导航:
老古网
→
老古论坛
→
XMOS公共讨论区
→
XMOS开源项目区
→
单片机程序设计
→
嵌入式系统
→
广告区域
→
→光电测试原理[huji87]
*第49957篇: 光电测试原理
楼 主:
huji87
2009年11月7日00:37
光电测试原理
有源光电器件的特性描述绝不仅仅只需要一个电流源
有源的光电器件是一个基本的半导体结,为了更全面的测试,不仅要求对其做正向的I-V特性测试,也要求监测反向的I-V特性。传统的激光二极管电流驱动在实验室级别是合适的,但是对于开发半导体器件完整的测试方案并不合适。而2400系列数字源表将源输出与测量的能力集成在一起,非常适用于半导体器件的特性分析。
>>>>>>对该主题发表你的看法
本主题贴数
1
,分页:
[第1页]
[上一篇主题]:
触摸方案
[下一篇主题]:
EMC 测量不确定度分析与计算