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 jtag测试
金鹏飞推出嵌入式 JTAG 边界扫描测试系统方案

IEEE1149.1对由背板系统的电路板进行测试是比较困难的，该标准主要是用TDI/TDO串行扫描路径对单板进行测试的，无法利用背板总线完成测试信号的并行测试。

金鹏飞科技根据这种情况推出了包括系统级边界扫描控制板及其控制软件完整的嵌入式 JTAG 边界扫描测试系统方案，该方案使用边界扫描测试接口的商业电路，可提供从一个扫描链到多个扫描链的切换，这样就构成了一个完善的层次测试系统。

该方案大大拓展了JTAG测试技术应用领域，对协助客户进一步完善DFT开发能力、提升产品生产质量、强化故障现场处置能力具有非常积极的意义。

详细情况请联系金鹏飞科技相关机构。

发表时间:2006年9月27日21:59:55