首先肯定你的试验很有意义：

首先肯定你的试验很有意义：
你的电容的交流容抗约为700ohm左右，而且你不断地接通、断开电源时，其上已不断地被充电，所以瞬间用电容短接市电通过其电流越来越小，由此产生的火花就越来越小，较少有机会干扰单片机。而电感虽然也是一种储能元件，但它以磁能方式存储能量，一旦电感离开电源，其储存的磁能便迅速以电的形式释放，产生极大的感生电压（可能比电源电压还要高出许多）从而产生强大的电花干扰mcu。你在mcu附近短路电容器，是将其储存的电荷强迫释放（极端情况下，其电压可达220x1.4142v），也会产生很大的火花干扰。
你的mcu系统抗火花干扰的能力较差，应根据实际应用场合采取措施。
受干扰的mcu多数是程序跑飞，可能会使它的i/o工作大负荷状态，因此发热。
不能手工复位，可能是你的复位电路设计不好。

发表时间:2003年4月4日12:20:31

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23337.[详细]在告诉你一个有趣的“当机”东东
摘要:我曾经使用：AT89C2051配置24M晶振，33P电容的振荡电路。发现：我用的那批晶振好象工作在临界状态，尽管4，5脚对地电压正常，但是，只要我点击5脚（输入），2051就停机。开始我用示波器检测不到晶振，随即的测试电路（简单的点亮、熄灭......(239字)
－ [tm1300][1248次] 2003年4月4日