No.90649 作者:sixuntech 邮件:lwbrich@yahoo.com.cn ID:49916 登陆:2次 文章数:2篇 最后登陆IP:222.212.234.128 最后登陆:2006/11/21 8:52:18 注册:2006/3/26 19:16:41 财富:123 发帖时间:2006/3/26 19:21:46 发贴者IP:222.212.225.205 标题:sixuntech:JTAG.NET板级测试系统 摘要:No.90649JTAG.NET板级测试系统 1、JTAG板级测试系统的主要应用 2、基于边界扫描技术进行FLASH加载的速度评估 Ø 基础测试 深圳思迅科技的JTAG板级测试基础测试是指扫描链路自测试,由于它是利用BS器件进入CAPTURE-IR状态时会自动装入CAPTURE信号而实现扫描链自测试的目的,所以又称为CAPTURE测试。 基础测试是进行JTAG其他任何测试加载任务之前首先进行的测试操作,以确保JTAG链能正常工作。 Ø 器件标志码IDCODE测试 IDCODE测试,也称为器件标志码测试,或器件型号测试,指令扫描送入IDCODE指令,然后通过数据扫描IDCODE寄存器中的IDCODE标志码,验证器件是否错装,器件的型号、版本号和生产厂商是否正确。 器件标志码存放在器件标准寄存器中,器件标志寄存器是包含在集成电路IC内部的一个可选寄存器,它由并行输入与串行输出的32位移位寄存器组成,而 ......
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