No.64736
作者：wangzhikj
邮件：7893437@qq.com
ID：146522
登陆：3次
文章数：128篇
最后登陆IP：58.62.26.141
最后登陆：2013/4/8 13:45:17
注册：2011/8/11 11:17:10
财富：761
发帖时间：2011/11/8 16:09:12
发贴者IP：121.32.182.17
标题：wangzhikj:最新薄膜孔径测定仪器Porometer 3G正式发布
摘要：No.64736最新薄膜孔径测定仪器Porometer 3G正式发布 2010年9月，美国康塔仪器公司(Quantachrome Instruments)隆重推出最新的薄膜孔径测定仪器。 该仪器是一款独特的全自动多功能分析仪，利用可侵润液体，如水，测定薄膜孔径及渗透率。与传统的压汞仪类似，Porometer 3G也是利用Washburn方程对孔径及渗透率进行计算。但是由于该仪器的测试原理为泡压法，使用的是可侵润的液体，如水，因此没有汞污染，无需实验室改造，更安全更便捷。同时该方法也是ASTM薄膜测定的标准方法 。 测试原理： 采用泡压法，即气体渗透法，测定被侵润样品在气流作用下的压力变化。 该方法同样以表面张力引起毛细孔中液体上升理论为依据．当毛细孔浸在某种液体中时，在表面张力的作用下，毛细孔中的液体将会上 升到某 一高度，当毛细孔中的表面张力与毛细孔中液柱重力达到力平衡，此时可按此计算薄膜 ......
>>返回讨论的主题
| 
导航: 老古网→ 老古论坛→XMOS公共讨论区→XMOS开源项目区→单片机程序设计→嵌入式系统→广告区域→