No.62360
作者：wangzhikj
邮件：7893437@qq.com
ID：146522
登陆：3次
文章数：128篇
最后登陆IP：58.62.26.141
最后登陆：2013/4/8 13:45:17
注册：2011/8/11 11:17:10
财富：761
发帖时间：2011/11/2 16:33:44
发贴者IP：14.146.82.230
标题：wangzhikj:物理吸附中吸附质的选择
摘要：No.62360物理吸附中吸附质的选择 多孔材料的表征通常都是使用气体在其亚临界温度，如77K的氮气(T/Tc = 0.61)， 87K的氩气(T/Tc = 0.58)，273K的二氧化碳(T/Tc = 0.90)等。低于气体的临界温度时，在孔道内壁吸附质呈液膜状，从而可以由等温线计算表面积、孔径和孔隙度。当温度高于气体的临界温度时，吸附在储气性能、气体分离等方面的应用则是关注的重点。 吸附层（类似液膜）厚度、孔填充压力以及孔中的毛细管凝聚都与在试验温度下孔中的吸附质及吸附质本体的化学势(μa及μo)有关。当吸附层（液膜）蒸汽压与本体饱和蒸汽压的平衡时，这二者的差值则与试验压力P和饱和蒸汽压p0相关，并可用Dμo =(μa - μo) = RTlnP/Po表示。其中R是气体常数，T为温度。因此与温度相关的气体饱和蒸汽压是物理吸附试验中非常重要的参数。只有得到准确的气体饱和蒸汽压，通过表征吸附量与精确地相对压力p/p0的关系才能进行准确的孔径测定仪及比表面积的分析。 饱和蒸汽压的大小与温度相关。表示气液共存的气液平衡线对应的压力与温度终止于临界点（图1）。有多种试验方法可以用于计算物理吸附过程中的饱和蒸汽压。其中，当物理吸附的试验温度接近吸附质的沸点时可以在物理吸附实验过程中连续测量饱和蒸汽压。该方法因为可以直接测量在独立的P0管中吸附质在实验温度时的凝聚，准确度最高，最为推荐。 通 ......
>>返回讨论的主题
| 
导航: 老古网→ 老古论坛→XMOS公共讨论区→XMOS开源项目区→单片机程序设计→嵌入式系统→广告区域→