发表看法:[sz20120406]全速(at-speed)测试的新挑战[原

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No.58913
作者：sz20120406
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标题：sz20120406:全速(at-speed)测试的新挑战[原创]
摘要：No.58913全速(at-speed)测试的新挑战[原创] 全速(at-speed)测试的新挑战
如今很多公司发现，所有嵌入式存储器的全速测试均要求能保持在一种可接受的“每百万片缺陷数”(DPM)水平上，也只有通过全速测试，厂商们才能相信存储器在终端应用的常规运行中会正确工作。当嵌入式存储器工作在较高频率上时，许多存储器BIST结构的实现可能并不是全速运行。幸运的是，当前在存储器BIST技术上所取得的进步允许使用全速测试算法，即使在存储器工作频率接近1GHz时。
实现全速存储器BIST操作的一个巨大进步是使用测试流水线，它能提供以下几个关键优势：首先人们需要考虑由存储器 BIST完成的三个主要步骤即，写入测试模版、读取该模版然后再将其与预期的结果进行比较。流水线使得这三个步骤可以并行进行。在写入新的数据的同时，以前读取的结果被记录，且在一个时钟周期内还可对以前读取结果进行比较操作，这能将测试时间缩短三分之二，而 ......

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