No.109877
作者：edadoc
邮件：liujuan-sz@pcbdoc.com
ID：132917
登陆：5次
文章数：1篇
最后登陆IP：183.16.200.142
最后登陆：2015/11/5 15:43:22
注册：2015/6/24 14:24:22
财富：112
发帖时间：2015/6/24 14:43:05
发贴者IP：113.110.210.174
标题：edadoc:[原创]高性能电路设计与产品可靠性技术研讨会
摘要：No.109877[原创]高性能电路设计与产品可靠性技术研讨会
感谢您一直以来对一博的关注和支持，西安站技术研讨会即将召开，我们真诚邀请所有关注电路信号完整性，高速PCB设计仿真技术的管理人员、工程师和研究人员现场免费参与我们一年一度的技术盛会。
演讲主题
高性能电路设计与产品可靠性
PCB设计十大误区 （上）
DDR4系统的设计和仿真 （Cadence嘉宾专题）
建立新的高速串行总线设计规则 时间/地点
时间：2015年07月15日 （全天）
地点：西安志诚丽柏酒店（20楼多功能厅）
西安高新技术开发区高新路46号（光华路与高新路交叉口）
日程安排
2015-07-15 高可靠性电路设计、生产、测试一站式解决方案
9:30-10:00 登记
10:00-10:4 ......
>>返回讨论的主题
| 
导航: 老古网→ 老古论坛→XMOS公共讨论区→XMOS开源项目区→单片机程序设计→嵌入式系统→广告区域→