内容导读：

93000 DFT系列测试设备解决了大批量系统级芯片（SoC）的测试问题，因此显著降低了采用先进DFT方法设计的器件的测试成本。该系统可测试模拟电路、存储器、粘结型逻辑电路等。测试技术包括从功能测试到BIST，以及从阶段扫描到混合信号测试的各个方面。它能根据SoC器件的测试需求进行调整。
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来源:半导体国际 作者: 时间:2004/1/2 0:00:00