LV2004新型内建自测试(BIST)产品线，据称能缩减系统级芯片(SOC)、存储器及其它设计的IC测试循环时间达两个月。它能实现测试自动化，并能访问SOC及存储器的设计、调试及制造测试阶段。该产品可被安捷伦、Inovys、LTX及Teseda的自动化测试设备平台(ATE)所支持。该解决方案包括两大关键技术：Embedded Test Planner及Wrapper TAP(WTAP)。Embedded Test Planner是一种预测性的分析工具，据称能确定出设计架构和嵌入测试要求之间的不兼容性，因而能使设计迭代最小化。LV2004还包含许多新型先进的性能，并采用了内存BIST控制器。它还内含改进的非接触式I/O测试能力，添加了I/O泄漏测试，采用现有的IEEE1149.1边界扫描硬件。
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来源:半导体国际 作者: 时间:2003/11/12 0:00:00
