内容导读：

半导体测试解决方案提供商科利登系统公司推出一种专利量产的物理设计纠错和验证解决方案--Verity系统。该方案具有产业标准的工程验证测试设备，领先的光探测技术以及完整集成的软、硬件装置。Verity能在初次投片时为设计工程师提供关于器件实际性能的关键信息，从而加速产品的设计过程，可避免多次重复设计和不必要的芯片加工。

Verity系统通过在批量生产之前查出故障降低制造成本，并提高了器件的成品率。该系统的设计纠错环境使物理设计和验证同步进行，将器件的开发过程连成一个整体。Verity系统利用享有专利的光探技术，提供简便的背面进入器件层的测量技术，避免了多层金属互连层的阻碍。该技术采用Netlist/CAD工具找到所期望的测量点。光学系统准确地定位是通过高精度的机械工作台实现的。探测系统利用了一种完全无源的非侵入式测试方法。

采用Verity系统的光学技术，能够看清电路中单个晶体管，从而使工程技术人员能够找到器件中关心的电路部分。当测试系统激励被测器件产生状态转换时，沟道中载流子发射的光子被一个快速且高灵敏度的红外探测器所接收，电路的关键时序信号被测出并显示在用于数据获取的图形化界面上。

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来源:中电网 作者: 时间:2003/7/24 0:00:00