内容导读：

CyberOptics半导体公司宣布其体积更小的高效能芯片映像传感器上市，该产品适合空间有限或希望传感器的占用空间较小的应用场合。EX-QS 具有和标准尺寸的EX-Q 映像器同样的功能，其极度可靠的暗盒或 FOUP 半导体芯片和打孔错误检测效能获得了高度的评价。

与标准EX-Q一样，EX-43QS 和 EX-73QS 传感器采用了反射激光技术，最佳化了传感器的光学平面几何，完全消除了 FOUP，暗盒或其它芯片出现杂散反射的可能性。因此，这些传感器可以迅速和可靠地检测到任何类型的芯片，不论芯片的直径、边缘形状、厚度或表面涂层如何。它们采用经过微调以获得最大敏感性的雷射发射器和接收器，在出厂增益设定时的暗芯片检测能力突出，并与任何尺寸（包括 300 mm）的平坦或齿形芯片兼容。EX-QS 采用一个极薄的 (0.05 mm) 雷射条带结合多个光圈和空间过滤来降低噪音和确保在一个增益设定时稳定地检测薄的和交叉开槽的芯片。

这些传感器对来自映射环境的干扰不敏感，因为它们所采用的专利性双重宽光束技术和内建的保护滤光片可最大限度地减少杂散反射和荧光的影响。EX-QS 传感器不包含运动部件，因而消除了被微粒沾染的任何可能性；且由于采用了反射技术，该传感器属于一种无干扰装置，减少了芯片在映像过程中被损坏的几率。

所有这些功能的结合改善了总体映射精确性并使得EX-QS 成为其它受到当今所制造出的高反射，暗或超薄芯片挑战的反射芯片的一种理想高效能替代品。

“我们的 EX-QS 是一种高度可靠的传感器和一种适合空间有限的应用场合的理想解决方案。它是其它目前面临创新和低反射芯片涂层的反射传感器的出色替代品，」CyberOptics Semiconductor 总经理 Craig Ramsey 说。「我们的 EX-QS 和 EX-Q 传感器不仅为半导体制造商提供目前市场上最坚固的传感器部件，而且透过大幅减少检测错误为它们节省了时间和资金。”

EX-QS 系列 1 类传感器是一种易于使用的「现成」解决方案，无需放大或信号调节，可安装在芯片处理设备上。这些产品具有两种拍摄距离选项：1.5 英吋和 2.2 英吋，工作范围在 1.4 和 2.35 之间，且符合 IEC 60825-1 (2001-08) 雷射安全标准和 SEMI S2-0200 雷射安全要求。

EX-QS 芯片映像传感器的主要规格

-- 检测方法： 双重宽光束
-- 拍摄距离： EX-43QS - 1.5 英吋；EX-73QS - 2.2 英吋
-- 最大检测距离： EX-43QS - 1.4 至 1.6 英吋；EX73QS -
2.05 至 2.35 英吋
-- 电流消耗： 一般为 130mA
-- 响应时间： 最长 400us
-- 最短脉冲持续时间： 5 ms
-- 工作温度： 32 至 104 华氏摄氏度（0 至 40 摄氏度）

价格与销售状况

EX-QS 芯片映像传感器目前已上市。提供具有吸引力的批量折扣。

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来源:中电网 作者: 时间:2005/9/12 0:00:00