访问手机版页面
你的位置:老古开发网 > 其他 > 正文  
科天发布新型光学表面分析系统,具有最宽空间带宽覆盖
内容导读:
       据Semiconductor Reporter报道,KLA-Tencor Corp.近期发布了一款新型全面的粗糙度及微表面形态的测量检测设备,该设备可以有效的提高制造商的生产能力。

       6300型光学表面分析系统可以提供行业内最宽的空间带宽覆盖,本底噪声低于0.05nm,该公司表示,6300型的多通道光学路结合了激光稳定控制技术,以提高其测试能力。

       6300的先进光学扫描技术可以在径向和圆周方向提供全片形貌检测,可以让生产商实现通过一台设备实现全部空间谱的测量,KLA-Tencor表示,6300提供全片、非接触的低成本检测的同时,还具有比探针工具和原子力显微镜(AFM)技术更快的检测速率。该设备将于10月份开始交货。

标签:
来源:SEMI 作者: 时间:2006/9/15 0:00:00
相关阅读
推荐阅读
阅读排行
最近更新
商品推荐