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电子测量三强共建实验室,面向纳米级高速IC
内容导读:

       电气测量公司Cascade Microtech公司日前宣布与飞利浦的MiPlaza研究中心及Agilent Technologies公司签署一项合作协议,三方将在荷兰埃因霍温共建一个电子测量实验室。

       该实验室将开发面向下一代无线系统的复杂的纳米级高速集成电路,并将配备高性能高频率的测量仪器,包括Cascade Microtech公司的RF探针和晶片探测台,以及Agilent Technology公司的能在67GHz频率下处理300mm晶片的网络分析仪。该实验室将可以直接在晶片上进行精确的IC电气测量,并将由这三家公司提供的应用技术人员和测量专家完全支持。

       MiPlaza研究中心的业务开发总监Gerjan van de Walle表示:“对于我们来说,这是前进的一大步。它不仅将继续增强我们在半导体研发领域所能提供的基础架构和技术,也是我们通过战略合作伙伴进行的一次重要扩张。”

       除了建立这个实验室,这三家公司还将开展一个应用开发项目,保持测量平台的世界级标准,并在晶片级描述应用领域进行更多的技术交流。

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来源:半导体国际 作者: 时间:2006/9/28 0:00:00
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