SOM 1005是一个整和系统，通过输运大功率，对雷射所引起的现象达到最优及最大的灵敏度和解析度。该系统使用1064nm和1340nm 两种光源。其中1064nm的光源可以穿透背面的硅底材并激发产生电子-电洞对，而1340nm光源则可进行定点加热。SOM 1005安装有照相机，在光源缓慢扫描时，可以对背部影象进行时事记录。目前，该系统可以应用于OBIC, SCOBIC, LIVA, TIVA, SEI 和OBIRCH等技术。其中OBIC, SCOBIC和LIVA是以激发出电子-电洞为基础进行缺陷定位的技术，而TIVA, SEI 和OBIRCH则是基于热激发进行缺陷定位的。

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       Booth: #4301