科利登的Sapphire D-10高产能低成本量产测试系统是专为测试消费类电子芯片而设计的。此款高度紧凑的系统集成了许多种类丰富的测试仪表，能满足各种数字，模拟和混合信号芯片测试的需求。

　　Sapphire D-10外形紧凑，功耗小，它采用了科利登公司的Omni先进专利技术，结合最新的FPGA技术，可以提供良好的灵活性和性能来满足不断变化的测试需求。此项革新技术已经应用于Sapphire D-10的数字仪表中,来达到更高的通道密度，更低的电源消耗以及更好的系统精度。

　　Sapphire D-10是第一款利用高速数据交换网来取代传统的基于总线的数据传输的测试系统，在测试仪表和处理器之间能达到500MB/s的基本数据传输率, 远远超过传统总线方式的2MB/s的速度。该方案比竞争机型在测试时间方面能有50%-240%的提高，并行测试效率能超过95%，高于业界的基准水平。

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